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随着社会的发展、越来越多的行业在工作方面用自动化设备来替代人工。比如说我们今天要讲的印刷上的印刷字符缺陷检测,以前可能是人工一个个的去检测。不仅精度不准、速度慢还容易疲劳。所以我们就会用机器视觉检测设备来实现这个过程。
在书本、杂志、报纸等印刷商品中,偶尔会因为印刷设备的故障导致印刷缺陷,这些缺陷大致分为颜色失真、有大块污渍、印刷错位、文字模糊、印刷起皱和损坏等。而传统的检测印刷质量的办法是人工随机抽样检测,受人的主观判断影响较大,很难保证印刷产品的准确性与一致性,一旦这些缺陷出现在产品包装上,产品的视觉观感就会大打折扣,严重影响产品的品牌形象,降低客户满意度。

机器视觉检测设备在印刷质量检测中的应用
采用机器视觉检测设备来检测印刷质量,其基本的工作原理是用摄像机拍摄(采集)印刷品上的图像,在计算机中与该印品的标准图像(模板)相匹配比较,如果发现差异并超出设定的公差范围,则判定为不合格产品。
有无检测:字符、日期、logo、条码等字符信息是否漏印;
错印检测:字符、日期、logo等信息是否准确无误,有没有字母缺失,条码是否准确可读;
规格检测:字符标识的大小、粗细是否合乎规范,印刷位置是否准确;
清晰度检测:是否存在模糊不清等瑕疵。
其他缺陷检测:是否有黑点、飞墨、脏污,是否重印等。
机器视觉检测设备可以应用在印前、印刷过程和印后加工中,但目前多数应用主要集中在印后质量检查中。随着市场对印 刷要求的提高,视觉检测技术将越来越多地被运用到印刷生产过程,帮助印刷企业提高生产效率,提高客户满意度。
康耐德智能作为视觉检测设备供应商,致力于为各行各业的制造商,提供高速机器视觉解决方案,制造企业客户依靠我们团队的技术经验,加快了生产线的速度,如果你想对机器视觉系统了解更多信息,可以联系我们!
晶圆缺失图案机器视觉检测系统
2026-05-10
晶圆缺失图案(即图案化晶圆)的机器视觉检测,是半导体制造中确保良率的核心环节。它利用光学、图像处理和AI技术,在纳米级尺度上识别晶圆表面的各种图案缺陷。
晶圆金属线短路机器视觉检测系统
2026-05-10
晶圆金属线(互连线)的短路检测,是半导体制造中良率控制的关键环节。随着制程工艺向纳米级(7nm、5nm甚至更先进)发展,金属线宽度仅为几十纳米,间距极小,传统的自动光学检测面临巨大挑战。
晶圆刻蚀残留机器视觉检测系统
2026-05-03
晶圆刻蚀残留检测是半导体制造良率控制的关键环节。由于刻蚀残留缺陷(如未刻透的氧化层、金属残留、聚合物残留)尺寸极小(纳米至微米级),且背景纹理复杂,传统的基于规则或简单模板匹配的机器视觉系统往往难以胜任。
晶圆显影缺陷机器视觉检测系统
2026-05-03
晶圆显影缺陷机器视觉检测系统主要用于显影后检查(ADI, After Develop Inspection),这是光刻工艺中的关键质量控制环节。该系统能够在显影工序完成后,自动检测光刻胶图形的缺陷,包括显影不完全、残留、桥接、缺失图案等问题。
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