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晶圆NOTCH轮廓检测是半导体制造中重要的检测环节,主要测量晶圆边缘、槽口(notch)的形状和尺寸,确保晶圆的质量和工艺精度。

芯片塑封异形结构保护点胶视觉检测系统
2026-09-13
芯片塑封异形结构的点胶质量检测,传统2D视觉和固定扫描方案常因曲面反光、路径复杂而力不从心。当前的主流技术路线已转向3D视觉引导+AI路径规划,通过动态姿态调整从源头解决阴影和数据缺失问题。
康耐德智能芯片塑封金线保护点胶视觉检测系统
2026-09-13
芯片塑封前的金线保护点胶(或称为包封胶、FOW)是防止金线被冲弯、确保电气绝缘的关键工序,但因金线本身极细、反光且带有弧度,传统2D检测很难胜任。
芯片射频识别标签导电胶点胶视觉检测系统
2026-09-06
RFID标签中导电胶的点胶质量直接决定芯片与天线的连接可靠性——胶量过少导致导通不良,过多则引发溢胶短路。康耐德智能视觉检测系统正是解决这一工艺痛点的关键,目前成熟方案主要分为传统机器视觉和AI深度学习两条技术路线。
康耐德智能图像传感器围坝填充点胶视觉检测系统
2026-09-06
康耐德智能图像传感器围坝填充点胶视觉检测系统,是一个融合了精密机械控制、机器视觉定位、流体点胶工艺和在线质量检测的自动化综合系统。
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