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在芯片封装过程中,因为杂质问题,芯片的流道堵塞可能导致封装材料无法充分填充,形成未充填缺陷。堵塞问题若未及时解决,可能影响后续的焊接、组装等工艺
为了识别流道中的堵塞情况,常用的方案就是通过机器视觉进行高精度检测。
康耐德的芯片流道喷孔堵塞视觉检测系统采用高分辨率工业相机和先进的图像处理算法,能够精确检测芯片流道喷孔的堵塞情况。其检测精度可达99%以上,检测精度达到5微米每像素,能够有效识别微小的堵塞物。
采取多相机成像解决方案,系统支持多相机配置,能够同时对多个芯片流道进行检测,提高检测效率,通过深度学习算法,系统能够自动识别和分类堵塞物的类型和位置,减少人工干预。
除了检测喷孔堵塞,康耐德的检测设备还能识别芯片流道上的脏污,包括颗粒物、化学残留、有机污染物等。
康耐德的芯片流道喷孔堵塞视觉检测系统广泛应用于半导体制造领域,尤其适用于对芯片流道清洁度和通畅性要求较高的生产环节。
企业可以有效降低因流道堵塞导致的芯片故障率,提高产品质量,实现自动化检测,减少人工操作,提高生产效率。
晶圆线宽机器视觉测量系统
2026-07-05
晶圆线宽机器视觉测量系统是半导体制造前道工艺中的关键质量控制设备,用于在线监测关键尺寸(CD, Critical Dimension)。随着制程节点迈向3nm及以下,这项技术正面临精度、速度与可靠性等多重挑战。
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2026-07-05
晶圆薄膜沉积后的颗粒检测,是半导体良率控制的关键环节。针对这一需求,目前的机器视觉检测系统已形成多技术融合的成熟方案,核心思路是通过先进光学成像捕捉颗粒,再由AI算法完成识别与分类。
多芯片封胶质量视觉检测系统
2026-06-28
多芯片封胶质量检测是半导体封装环节的关键工序。封胶(Molding/Underfill)不仅保护内部芯片和引线,还直接影响器件的散热和机械可靠性。针对这一检测需求,当前行业已经形成了从 2D/3D 外观检测到内部无损探伤的综合技术体系。
芯片引线键合保护胶涂覆视觉检测系统
2026-06-28
芯片引线键合后涂覆保护胶,是为了防潮、防震、防尘。但这个环节容易出现漏胶、溢胶、气泡、断线等问题,且金线和焊点极为精细微小,必须用高精度的视觉系统来把关。
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