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康耐德智能芯片焊球有无及高度3D视觉检测系统是半导体封装和后道制程中的关键质量控制环节。
采用高精度3D视觉传感器、专业光学系统、高速图像处理软件和AI算法实现对芯片封装完成后,对芯片底部或基板上的焊球进行快速、无损的全面检测。

系统可以检测是否存在缺球、多球等致命缺陷,缺球会导致该引脚电气连接失效,整个芯片可能无法工作或性能不稳定。
精确测量每一个焊球的绝对高度、共面性,所有焊球顶点是否在同一个平面上,确保每个焊球在熔化后能形成可靠的机械和电气连接
同时还具备检测焊球直径、体积、焊球位置偏移、焊球形状缺陷等功能
系统能够自动识别芯片区域,精准定位每一个焊球,即使存在轻微的位置偏移,实现微米级甚至亚微米级的高度测量精度,应对日益微小的芯片焊球,毫秒级内完成一整颗芯片的扫描和判定,满足生产线节拍。
针对晶圆级芯片尺寸封装,可以在划片前对整个晶圆上的芯片凸点进行检测。
康耐德智能芯片焊球有无及高度3D视觉检测系统是现代高端半导体制造中不可或缺的“质量守门员”。它通过非接触式的3D测量技术,实现了对焊球质量的定量化、自动化、全检化,极大地提升了生产良率
康耐德智能电子开关元件点胶视觉检测系统
2026-10-15
随着电子开关向微型化、高密度方向演进,在电子开关元件的生产线上,点胶是关键工序。一颗细小的胶水气泡、一段不足0.1毫米的断胶、一处轻微偏位的胶路,都可能导致开关触点失效、密封不良,甚至整批产品返工报废。
康耐德TWS耳机专属点胶AOI视觉检测方案
2026-10-15
TWS耳机体积小、结构精密,是消费电子高端制造的代表。整机防水密封、结构固定、防尘防护、线路加固等关键工序,全都依赖精密点胶工艺。胶路的精度好坏,直接决定耳机的防水等级、使用寿命和佩戴、音质体验,是量产质控的重中之重。
康耐德智能LGA封装金属触点缺陷视觉检测系统
2026-10-11
在半导体封装领域,LGA封装凭借优异散热与电气性能,广泛用于AI算力芯片、工控、车载等高可靠场景。与BGA锡球封装不同,LGA底部是平整镀金金属触点,触点划痕、氧化、镀层脱落,都会直接造成芯片接触失效。
芯片柔性电路板连接导电胶点胶视觉检测系统
2026-10-10
针对芯片柔性电路板连接中的导电胶点胶检测,目前业内主要采用 “3D视觉检测+2D视觉检测”的综合方案。
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