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康耐德智能芯片焊球有无及高度3D视觉检测系统是半导体封装和后道制程中的关键质量控制环节。
采用高精度3D视觉传感器、专业光学系统、高速图像处理软件和AI算法实现对芯片封装完成后,对芯片底部或基板上的焊球进行快速、无损的全面检测。

系统可以检测是否存在缺球、多球等致命缺陷,缺球会导致该引脚电气连接失效,整个芯片可能无法工作或性能不稳定。
精确测量每一个焊球的绝对高度、共面性,所有焊球顶点是否在同一个平面上,确保每个焊球在熔化后能形成可靠的机械和电气连接
同时还具备检测焊球直径、体积、焊球位置偏移、焊球形状缺陷等功能
系统能够自动识别芯片区域,精准定位每一个焊球,即使存在轻微的位置偏移,实现微米级甚至亚微米级的高度测量精度,应对日益微小的芯片焊球,毫秒级内完成一整颗芯片的扫描和判定,满足生产线节拍。
针对晶圆级芯片尺寸封装,可以在划片前对整个晶圆上的芯片凸点进行检测。
康耐德智能芯片焊球有无及高度3D视觉检测系统是现代高端半导体制造中不可或缺的“质量守门员”。它通过非接触式的3D测量技术,实现了对焊球质量的定量化、自动化、全检化,极大地提升了生产良率
晶圆线宽机器视觉测量系统
2026-07-05
晶圆线宽机器视觉测量系统是半导体制造前道工艺中的关键质量控制设备,用于在线监测关键尺寸(CD, Critical Dimension)。随着制程节点迈向3nm及以下,这项技术正面临精度、速度与可靠性等多重挑战。
晶圆薄膜沉积后的颗粒机器视觉检测系统
2026-07-05
晶圆薄膜沉积后的颗粒检测,是半导体良率控制的关键环节。针对这一需求,目前的机器视觉检测系统已形成多技术融合的成熟方案,核心思路是通过先进光学成像捕捉颗粒,再由AI算法完成识别与分类。
多芯片封胶质量视觉检测系统
2026-06-28
多芯片封胶质量检测是半导体封装环节的关键工序。封胶(Molding/Underfill)不仅保护内部芯片和引线,还直接影响器件的散热和机械可靠性。针对这一检测需求,当前行业已经形成了从 2D/3D 外观检测到内部无损探伤的综合技术体系。
芯片引线键合保护胶涂覆视觉检测系统
2026-06-28
芯片引线键合后涂覆保护胶,是为了防潮、防震、防尘。但这个环节容易出现漏胶、溢胶、气泡、断线等问题,且金线和焊点极为精细微小,必须用高精度的视觉系统来把关。
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