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一颗芯片,从封装到成品,任何微小瑕疵都可能导致整批报废。康耐德四大智能视觉检测系统,为芯片品质保驾护航。

一,HPC塑封外观检测。检测气孔、气泡、粘模、缺边、尺寸偏差。多角度光源+高分辨率相机,微米级精度,2D+3D融合感知,连反光干扰都能克服,稳定检出多种塑封缺陷。
二,四面封胶检测。检测溢胶、断胶、胶厚胶宽异常,系统100%全检。深度学习自动学习封胶特征,即使元件位置偏移,也能精准定位,联动机械手自动剔除不良品,数据回传MES。
三,表面瑕疵检测。检测划伤、颗粒、油污、化学残留,传统规则容易漏检。康耐德采用深度学习模型,复杂背景下精准分割瑕疵,大幅降低误报和漏检,实现高速在线全检。
四,IC缺陷检测。检测引脚缺失、歪斜变形、焊球凹坑、芯片漏底、表面微裂纹,定制光学方案搭配深度学习,精准识别与量化评估,保障IC产品的电气性能和长期可靠性。
四大系统覆盖芯片封装核心环节,全面检测表面缺陷。康耐德用智能机器视觉,守护每一颗“芯”的品质。
康耐德智能显示模组驱动IC外观缺陷视觉检测系统
2026-11-08
显示模组驱动IC是液晶、OLED显示模组的核心控制芯片,直接承担图像信号解析、像素驱动与画面输出功能。生产制程中易出现IC破损、IC裂痕等缺陷.IC破损会造成芯片内部电路直接断路,模组完全无法点亮;
康耐德智能TWS无线耳机触控模块固定点胶视觉检测系统
2026-11-07
TWS无线耳机触控模块的固定点胶工艺,是在触控感应层与耳机壳体之间施加精密胶路,以实现触控模块的机械固定、密封防护和信号隔离。由于TWS耳机内部空间极为紧凑,触控模块周边存在FPC软板、天线弹片、麦克风等敏感元器件,点胶位置偏移或胶量异常将直接导致触控失灵、短路或装配干涉。触控模块的固定点胶视觉检测系统需要同时完成两项核心任务:点胶前的视觉定位引导和点胶后的胶路质量检测,形成“引导—点胶—检测—反馈”的闭环质量管控。
TWS无线耳机电池仓密封点胶视觉检测系统
2026-11-07
TWS无线耳机电池仓密封点胶是保障产品防水防尘性能的核心工序之一。电池仓位于耳机腔体内部,其点胶密封需要在极狭小的空间内完成,典型的点胶位置尺寸往往不到1毫米,所需胶量仅为毫克级别,位置偏差不允许超过0.01毫米。
晶圆预对准机器视觉检测系统
2026-11-01
晶圆预对准是半导体制造中光刻、刻蚀、检测等工艺前的关键步骤。其核心目标是在晶圆被传输到工艺腔室(如光刻机工件台)之前,将晶圆的圆心定位到机械手已知的中心位置,并将缺口(Notch)或平边(Flat)旋转到预设的固定角度。
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