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构建一套完整的晶圆背面涂胶膜厚度视觉检测系统,不仅仅是选型一个传感器,更需要考虑硬件集成、软件算法、运动控制、数据闭环等多个层面的协同。

二、晶圆背面涂胶检测的特殊考虑
检测挑战:
背面涂胶通常较厚:晶圆背面涂胶(如用于保护、粘接或临时键合)厚度通常在几十微米级别,需要选择合适量程的检测设备
均匀性要求高:涂胶厚度均匀性直接影响后续工艺(如研磨、切割)的良率
三、自动化检测系统方案
现代晶圆背面涂胶膜厚视觉检测系统通常具备以下功能 :
全自动Mapping扫描:60秒内完成8英寸晶圆625个点的全自动化测绘,生成2D/3D厚度分布图
多点测量:每片晶圆至少16个测量点,确保厚度均匀性评估
极坐标扫描模式:通过高速旋转平台与直线移动探头实现全覆盖检测
数据管理:提供厚度分布mapping图,支持工艺优化和质量追溯
四、关键工艺参数控制
根据实际生产经验,晶圆背面涂胶膜厚检测需关注 :
厚度均匀性:整片晶圆内厚度偏差控制(如15-20μm范围内均匀性<0.8μm)
边缘效应:避免晶圆边缘凸起影响有效利用面积
表面粗糙度:Rs值需<10μm以确保后续工艺粘接质量
TTV(总厚度偏差):研磨后晶圆TTV需控制在<1μm
多芯片封胶质量视觉检测系统
2026-06-28
多芯片封胶质量检测是半导体封装环节的关键工序。封胶(Molding/Underfill)不仅保护内部芯片和引线,还直接影响器件的散热和机械可靠性。针对这一检测需求,当前行业已经形成了从 2D/3D 外观检测到内部无损探伤的综合技术体系。
芯片引线键合保护胶涂覆视觉检测系统
2026-06-28
芯片引线键合后涂覆保护胶,是为了防潮、防震、防尘。但这个环节容易出现漏胶、溢胶、气泡、断线等问题,且金线和焊点极为精细微小,必须用高精度的视觉系统来把关。
倒装芯片底部填充胶视觉检测系统
2026-06-21
倒装芯片底部填充胶(Underfill)的视觉检测,是确保半导体封装良率和长期可靠性的关键手段。填充胶常见缺陷(如空洞、缺胶、溢胶、分层)直接影响芯片抵抗热应力的能力,传统人工目检已无法满足微米级精度和量产速度要求。
芯片LGA封装侧边封胶完整性视觉检测系统
2026-06-21
LGA封装侧边封胶的完整性检测,是目前5G、AI芯片等高可靠性封装中的关键质量控制点。侧边封胶容易产生气泡、缺口、溢胶等缺陷,而传统人工目检效率低、一致性差。
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