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机器视觉系统是计算机学科的一个非常重要分支,它结合了光学、机械、电子、计算机软硬件等方面的技术,牵涉到计算机、图像处理、模式识别、人工智能、信号处理、光机电一体化等众多方面。
我们在选择机器视觉系统供应商的时候,需要考虑的方面就要比较周全了。

需要考虑的非常重要问题包括:
1.机器视觉系统供应商能否提供专业的机器视觉专家协助您进行初步系统设计评估?很重要的一点是,与经验丰富的销售和应用工程师合作,能够以更有效率的完成机器视觉系统设计。
2.机器视觉系统供应商能否拥有全国多网点售后服务支持网络?如果系统在一个地方调试,而在另一个地方安装,那么,这一点至关重要。
3.机器视觉系统供应商能否提供完善而价格实惠的培训和支持(包括在线自助和培训课程、24小时电话支持和个性化培训服务)?
4.如果您从经销商或系统集成商处选购机器视觉系统,他们能否为机器视觉系统制造商的授权合作方?
5.机器视觉系统供应商能否拥有丰富的项目成功经验以及长期支持您需求的企业财务稳定性?
6.如果您的应用有需要,或者您的应用需求变更,机器视觉系统供应商能否提供更先进的系统更新支持和工具支持?
康耐德智能控制的团队致力于为各行各业的制造商,提供高速机器视觉解决方案,制造企业客户依靠我们团队的技术经验,加快了生产线的速度,如果你想对机器视觉系统了解更多信息,可以联系我们!
晶圆缺失图案机器视觉检测系统
2026-05-10
晶圆缺失图案(即图案化晶圆)的机器视觉检测,是半导体制造中确保良率的核心环节。它利用光学、图像处理和AI技术,在纳米级尺度上识别晶圆表面的各种图案缺陷。
晶圆金属线短路机器视觉检测系统
2026-05-10
晶圆金属线(互连线)的短路检测,是半导体制造中良率控制的关键环节。随着制程工艺向纳米级(7nm、5nm甚至更先进)发展,金属线宽度仅为几十纳米,间距极小,传统的自动光学检测面临巨大挑战。
晶圆刻蚀残留机器视觉检测系统
2026-05-03
晶圆刻蚀残留检测是半导体制造良率控制的关键环节。由于刻蚀残留缺陷(如未刻透的氧化层、金属残留、聚合物残留)尺寸极小(纳米至微米级),且背景纹理复杂,传统的基于规则或简单模板匹配的机器视觉系统往往难以胜任。
晶圆显影缺陷机器视觉检测系统
2026-05-03
晶圆显影缺陷机器视觉检测系统主要用于显影后检查(ADI, After Develop Inspection),这是光刻工艺中的关键质量控制环节。该系统能够在显影工序完成后,自动检测光刻胶图形的缺陷,包括显影不完全、残留、桥接、缺失图案等问题。
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